高頻探針的測量通常是與被測器件 (DUT) 串聯(lián)進行的。因此，測試解決方案是信號路徑的一部分。為確保最小回波損耗，測試解決方案必須具有與被測器件相同的阻抗系統(tǒng)（例如 50 Ω）。然而，如果要在閉合的信號路徑中執(zhí)行測量，則其必須確保信號路徑不會因為測試解決方案而受到影響。如果在這種情況下通過標準測試解決方案進行測量，將會損耗 50% 的能量。其原因在于，測試解決方案與測量對象并聯(lián)。為避免這種情況，INGUN 開發(fā)了一種專門的測試探針，可以實現(xiàn)高阻抗的信號拾取，從而確保信號路徑不受影響。

一：帶有集成補償元件的高頻探針HFS-840 007 051 A 4807 P1-AS（如圖一）和HFS-440 007 051 A 4807 P5-AS 4M（如圖二）

（圖一）     

     

（圖二）

二：為了指定此測量方案，將執(zhí)行三端口測量，端口 1 和端口 2 與測量對象相連，端口 3 與高頻探針相連（如圖三）

（圖三）

三：如下測量所示，試樣受探針的影響很小。損失的功率降低了 20 dB。這相當于電壓降低了 1/10，例如用示波器測量時。通過短接地，幾乎可以避免寄生耦合。該測試解決方案特別適用于用示波器自動測試組件。（如圖四）

（圖四）

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